
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC公率半導體技術信息模塊測評考驗及應該對》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛適用(yong)于從實驗室(shi)到小批量、大批量產(chan)線的全方位應用(yong),幫(bang)助國產(chan)功率半導(dao)體(ti)廠商加快研發測(ce)試以(yi)及批量化生產(chan)進程。
普賽斯工作效率電子器件靜態變量主要參數測評系統的,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多元化的(de)測試(shi)功能,還具備(bei)高精度、寬測量范圍(wei)、模(mo)(mo)塊化設計以(yi)及(ji)便捷的(de)升級擴展等顯著優勢。其設計初衷在于全面(mian)滿足從基礎功率二(er)極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體(ti)SiC、GaN等晶圓、芯片(pian)、器件及(ji)模(mo)(mo)塊的(de)靜態(tai)參數表(biao)征和測試(shi)需求,確保測量效率、一致(zhi)性(xing)(xing)與可靠性(xing)(xing)的(de)優異(yi)表(biao)現。

PMST瓦數元器件封裝動(dong)態性能(neng)參(can)數各種測(ce)試體系

PSS TEST外部高(gao)底溫(wen)半自己測(ce)量裝置

PMST-MP 靜止產品參(can)數半(ban)自主化軟件(jian)測試(shi)操作系統

PMST-AP 空(kong)態數據全主動化(hua)測量機系統
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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